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半导体集成电路 模拟开关测试方法 专家咨询 在线阅读

标准基本信息       

标准编号:GB/T 14028-2018

标准名称:半导体集成电路 模拟开关测试方法

英文名称:Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

标准状态:即将实施

出版信息:

出版语种:

标准简介:

首发日期:1992-12-18

实施日期:2018-08-01

发布日期: 2018-03-15

作废日期: 2001-01-01

备注描述:

标准分类号

ICS分类号:31.2

中标分类号:L56

实行区域

实行区域:国内

关联标准

起草发布信息

标准类型:

标准属性:GB

标准编号:

起草单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

起草人:

归口单位:

提出部门:中华人民共和国工业和信息化部

发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会